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HPLC 문제 해결 안내서

가장 흔한 HPLC 문제 파악, 격리, 수정 방법

컬럼 기술과 계측의 발전으로 HPLC 방법 개발이 향상되었지만 여전히 문제는 발생합니다. 이 지침에서는 전형적인 HPLC 문제를 격리, 파악, 수정하는 체계적인 수단을 제공합니다.

HPLC 시스템의 중요한 부분은 모듈식 시스템을 사용하거나 보다 정교한 장치를 사용하거나 동일합니다. 각 구성 부품에서 전체 시스템 성능에 영향을 미치는 문제가 발생할 수 있습니다. 여기서는 몇 가지 흔한 문제를 설명합니다. 이러한 문제의 해결 방법은 사용하기 쉬운 표 형식으로 제시됩니다.

HPLC 문제 격리

HPLC 시스템에서는 여러 원천에서 문제가 발생할 수 있습니다. 먼저 문제를 정의한 다음 원천을 격리하십시오.

표 1을 사용하여 문제의 원인일 수 있는 구성 부품을 결정하십시오. 일반적으로 제거 과정을 통해 구체적 원인을 정확히 파악하고 문제를 수정할 수 있습니다.

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이동상 문제 방지 방법

낮은 감도와 상승하는 기저선, 잡음 또는 크로마토그램의 스파이크는 이동상이 원인인 경우가 많습니다. 이동상의 오염 물질은 특히 기울기 용리에서 문제가 됩니다. 기저선이 상승할 수 있고, 오염 물질 성분 수준이 증가함에 따라 거짓 피크가 나타날 수 있습니다.

물은 역상 분석에서 가장 흔한 오염원입니다. 이동상을 조제할 때는 고순도 증류수나 탈염수만 사용해야 합니다. 하지만 흔한 몇 가지 탈염기는 물에 유기 오염물을 주입합니다. 이러한 오염 물질을 제거하려면 탈염수를 활성탄 또는 분취 C18 컬럼을 통해 통과시키십시오.

HPLC 등급 용매, 염, 이온쌍 시약, 염기 및 산 조절제만 사용하십시오. 품질이 낮은 용매 세정은 시간이 많이 걸리며, 미량의 오염 물질이 남아 있는 경우가 많습니다. 이러한 미량 오염 물질은 고감도 자외선 또는 형광 검출기를 사용할 때 문제를 일으킬 수 있습니다.

여러 수성 버퍼는 박테리아 또는 조류의 성장을 촉진하므로 이러한 용액은 신선하게 준비하고 사용 전에 여과(0.2 μm 또는 0.45 μm 필터)해야 합니다. 잡음이 있는 기저선을 생성하거나 컬럼을 막을 수 있는 입자도 여과를 통해 제거됩니다. 수성 버퍼에 약 100 ppm의 아지드화 나트륨을 추가하여 미생물 성장을 방지하십시오. 또는 이 버퍼를 에탄올 또는 아세토니트릴 등의 유기 용매 20 % 이상과 혼합할 수도 있습니다.

시스템에 기포가 생기는 것을 방지하려면 이동상을 탈기하십시오. 일반적으로 인라인 탈기 장치를 가장 많이 사용하지만 이동상에 휘발성 성분이 함유되어 있지 않은 경우에는 헬륨을 사용한 주입도 대안이 될 수 있습니다.

이온쌍 시약은 조심해서 사용하십시오. 분석 때마다 시약의 최적 사슬 길이와 농도를 결정해야 합니다. 농도는 낮게는 0.2 mM, 높게는 150 mM 이상이 될 수도 있습니다. 일반적으로 농도나 사슬 길이를 늘리면 체류 시간이 늘어납니다. 높은 농도(50 % 이상)의 아세토니트릴 또는 그 밖의 일부 유기 용매는 이온쌍 시약을 침전시킬 수 있습니다. 또 이온쌍 시약의 일부 염은 물에서 녹지 않고 침전됩니다. 이 문제를 피하려면 긴 사슬 황산이 있는 경우(예: 도데실 황산 나트륨) 칼륨 함유 버퍼 대신 나트륨 함유 버퍼를 사용하십시오.

추가 분석을 위해 화합물을 복구하려는 경우 트리에틸아민(TEA)과 트리플루오르아세트산(TFA) 등 휘발성 염기 및 산 조절제가 유용합니다. 이온쌍 시약과 관련된 문제도 이 조절제로 피할 수 있습니다. 이러한 조절제는 TEA의 경우 0.1-1.0 %, TFA의 경우 0.01-0.15 %의 농도로 버퍼에 첨가할 수 있습니다. 농도를 높이면 일부 화합물의 피크 모양이 개선될 수 있지만 체류 시간이 바뀔 수 있습니다.

등용매 분리에 사용된 이동상 재활용은 용매 및 용매 처리 비용과 이동상 준비 시간을 줄이는 수단으로 점점 더 인기를 얻게 되었습니다. 용매 회수 장치는 마이크로프로세서로 제어되는 스위칭 밸브를 사용하여 피크가 검출될 때 용매 흐름을 폐기물로 보냅니다. 선택된 임계값 이하로 기저선이 떨어지면 오염되지 않은 용매를 다시 용매 탱크로 보냅니다.

hplc-시스템-구성-부품.

그림 A.HPLC 시스템 구성 부품

펌프 문제 격리

펌프는 다양한 조건에서 컬럼에 일정한 용매 흐름을 제공해야 합니다. HPLC 펌프에는 싱글 또는 듀얼 피스톤, 주사기 또는 다이어프램 펌프 디자인이 통합되어 있습니다.

펌핑 시스템 문제는 일반적으로 발견 및 수정이 쉽습니다. 보다 일반적인 몇 가지 증상은 불규칙한 체류 시간, 잡음이 있는 기저선 또는 크로마토그램의 피크입니다. 펌프 피팅이나 씰에 누출이 있으면 크로마토그래피가 나빠집니다. 펌프 연결부의 염 축적은 확실한 누출 신호입니다. 버퍼 염은 신선한 탈염수로 매일 씻어내야 합니다. 기기와 관련된 특정 문제를 격리하고 수리하려면 작동 설명서의 문제 해결 및 유지 관리 섹션을 사용하십시오. 펌프 씰은 주기적 교체가 필요합니다. 문제가 발생할 때까지 기다리지 말고 정기적인 유지 관리를 실시해야 합니다.

주입기 및 주입 용매

주입기는 용매 흐름의 방해를 최소화하면서 시료를 신속하게 시스템에 주입합니다. 현재 HPLC 시스템은 가변 루프, 고정 루프, 주사기 타입 주입기를 사용합니다. 이러한 부품은 수동, 공압 또는 전동식으로 작동됩니다.

주입기와 관련된 기계적 문제(예: 누출, 막힌 모세관, 마모된 씰)는 발견 및 수정이 쉽습니다. 주입기 씰의 물리적 분해로 인한 컬럼 프릿의 막힘을 방지하려면 프리컬럼 필터를 사용하십시오. 재현 불가능한 주입과 같은 그 밖의 문제는 해결하기가 더 어렵습니다.

가변적인 피크 높이, 갈라진 피크, 넓은 피크는 불완전하게 충진된 시료 루프, 주입 용매와 이동상의 비호환성 또는 시료 가용성 불량이 원인일 수 있습니다. 가능하면 항상 이동상에 시료를 용해하고 주입하십시오. 그렇지 않다면 주입 용매의 용리 강도가 이동상보다 낮아야 합니다(표 3). 일부 자동 시료 주입기는 별도의 주사기 세척액을 사용한다는 점에 유의하십시오. 세척액은 이동상과 호환되고 이동상보다 약해야 합니다. 이 점은 역상 분석과 순상 분석을 전환할 때 특히 중요합니다.

컬럼 보호

대부분의 장비에서 필수 부품은 아니지만 이동상 주입 필터, 프리인젝터 및 프리컬럼 필터, 가드 컬럼은 복잡한 분리와 관련된 문제를 크게 줄여 줍니다. 모든 시료를 0.45 μm 또는 0.2 μm 주사기 필터로 여과하는 것을 권장합니다. 가드 컬럼 사용을 적극 권장합니다.

필터와 가드 컬럼은 입자와 강하게 체류하는 화합물이 분석 컬럼에 축적되는 것을 방지합니다. 이러한 소모성 제품의 사용 수명은 이동상 조성, 시료 순도, pH 등에 따라 달라집니다. 이러한 장치가 입자로 오염되거나 막히면 압력이 증가하고 피크가 넓어지거나 갈라집니다. 예를 들어 그림 B는 명백한 가드 컬럼 사용 사례를 보여 줍니다. 

supelguard 컬럼

그림 B.Supelguard 컬럼은 분석 컬럼의 수명을 늘립니다

분석 컬럼 최대한 활용하기

컬럼에 결합된 역상 또는 순상, 이온 교환, 친화력, 소수성 상호 작용, 크기 배제 또는 수지/실리카 기반 패킹이 있는지에 상관없이 분석 컬럼과 관련된 가장 일반적인 문제는 열화입니다. 열화의 증상은 피크 모양 불량, 갈라진 피크, 숄더, 분해능 손실, 체류 시간 감소, 높은 배압입니다. 이러한 증상은 프릿 또는 컬럼 주입구에 오염 물질이 축적되었거나 패킹 베드에 공극, 채널 또는 함몰이 있음을 나타냅니다.

열화는 효율이 높은 컬럼에서 더 뚜렷하게 나타납니다. 예를 들어 0.5 마이크론 프릿으로 체류된 3 마이크론 패킹은 2 마이크론 이상의 프릿으로 체류된 5 또는 10 마이크론 패킹보다 막힘이 발생하기 더 쉽습니다. 각 컬럼을 최대한 활용하려면 적절한 컬럼 보호와 시료 준비가 필수적입니다.

컬럼 과부하는 피크 모양 불량 및 기타 문제를 초래할 수 있습니다.

일반적인 컬럼 용량

컬럼 용량은 여러 요인에 따라 달라지지만 컬럼의 피분석물 총량의 일반적 값은 다음과 같습니다.

컬럼 유형컬럼 면적
컬럼 용량
Analytical column25 cm x 4.6 mm< 500 μg
Semi-preparative column25 cm x 10 mm< 100 mg
Preparative column25 cm x 21 mm< 500 mg

검출기 문제 해결

검출기 문제는 전기적 문제와 기계적/광학 문제의 두 카테고리로 나뉩니다. 전기적 문제의 경우 기구 제조업체에 문의해야 합니다. 기계적 또는 광학 문제는 일반적으로 유세포까지 추적할 수 있습니다. 검출기 관련 문제에는 누출, 기포, 세포 오염이 포함됩니다. 이런 문제는 일반적으로 크로마토그램의 스파이크나 기저선 잡음 또는 낮은 감도를 만들어냅니다.

일부 세포(특히 굴절률 검출기에 사용되는 세포)는 압력에 민감합니다. 유속이나 배압이 제조업체 권장 사항을 초과할 경우 용기창이 파손됩니다. 오래되거나 결함이 있는 램프와 부정확한 검출기 상승 시간, 이득 또는 감쇠는 감도와 피크 높이를 줄입니다. 고장 나거나 거꾸로 연결된 케이블도 문제의 원인이 될 수 있습니다.

컬럼 히터, 기록기

이러한 구성 부품은 시스템 문제를 거의 일으키지 않으며, 문제 해결 표(표 1)에 설명되어 있습니다.

정확한 기록 유지

대부분의 문제는 하룻밤 사이에 발생하는 것이 아니라 점진적으로 나타납니다. 그러므로 많은 문제의 탐지와 해결에는 정확한 기록 유지가 매우 중요합니다.

수령 후 확인표의 모든 컬럼은 수령 시 및 수령 이후 정기적으로 평가하십시오. 컬럼 효율, 사용된 이동상, 램프 전류, 펌프 성능 등을 서면으로 기록하여 시스템 성능을 모니터링할 수 있습니다.

기록은 물을 실리카 컬럼에 주입하거나 너무 많은 유기 용매를 첨가하여 시스템에 버퍼를 침전시키는 등의 실수를 방지하는 데도 도움이 됩니다. 많은 분석가는 어떤 방식으로든 HPLC 시스템을 개조합니다. 신뢰성 있는 기록은 개조로 문제가 발생하지 않도록 하는 가장 좋은 방법입니다. 펌프, 검출기, 자동 시료 주입기, 데이터 시스템과 관련된 문제는 기구 설명서의 문제 해결 안내서를 참조하십시오.

HPLC 문제 색인

표 1. HPLC 문제, 가능한 원인 및 해결 방법

문제 1번: 피크 없음/매우 작은 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 검출기 램프 꺼짐.
  2. 검출기와 적분기 또는 기록기 사이의 전선 헐거워짐/파손.
  3. 이동상 흐름 없음.
  4. 시료 없음/열화된 시료/잘못된 시료.
  5. 검출기나 기록기에서 설정이 너무 높음.
  1. 램프를 켭니다.
  2. 전기 연결부와 케이블을 점검합니다.
  3. 흐름 없음”(문제 2번).
  4. 자동 시료 주입기 바이얼에 충분한 액체가 있고 시료에 기포가 없는지 확인합니다. 신선한 표준으로 시스템 성능을 평가하여 시료가 문제의 원인임을 확인합니다.
  5. 감쇠 또는 이득 설정을 확인합니다. 램프 상태를 확인합니다. 필요할 경우 자동 영점 보정을 실시합니다.

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문제 2번: 흐름 없음

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 펌프 꺼짐.

  2. 흐름 중단/막힘.







  3. 누출.




  4. 펌프 헤드에 공기 갇힘. (압력 변동으로 드러남.)
  1. 펌프를 가동합니다.

  2. 탱크의 이동상 수위를 점검합니다. 시스템 전체의 흐름을 점검합니다. 시료 루프에 장애물 또는 공기 폐색이 있는지 검사합니다. 이동상 성분이 혼합성이고 이동성이 제대로 탈기되었는지 확인합니다.

  3. 시스템에 헐거운 피팅이 있는지 확인합니다. 펌프에 누출, 염 축적, 비정상적 소음이 있는지 확인합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다.

  4. 가드 컬럼(있는 경우) 또는 분석 컬럼 주입구의 튜빙을 분리합니다. 흐름을 점검합니다. 높은 유속(예: 5-10 mL/min)으로 펌프를 퍼징하고 필요한 경우 시스템을 프라이밍합니다. (각 펌프 헤드를 따로 프라이밍하십시오.) 시스템에 체크 밸브가 있는 경우 공기가 빠져나가도록 밸브를 풉니다. 문제가 계속되면 100 % 메탄올이나 이소프로판올로 시스템을 플러싱합니다. 문제가 계속되면 시스템 제조업체에 문의하십시오.

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문제 3번: 압력 없음/평소보다 낮은 압력

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 누출.




  2. 이동상 흐름 중단/막힘.






  3. 펌프 헤드에 공기 갇힘. (압력 변동으로 드러남.)






  4. 컬럼 주입구 엔드 피팅의 누출.




  5. 시스템 다른 곳에 공기 갇힘.





  6. 마모된 펌프 씰로 인해 펌프 헤드 주위에 누출 발생.

  7. 고장 난 체크 밸브.

  8. 고장 난 펌프 씰.
  1. 시스템에 헐거운 피팅이 있는지 확인합니다. 펌프에 누출, 염 축적, 비정상적 소음이 있는지 확인합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다.

  2. 탱크의 이동상 수위를 점검합니다. 시스템 전체의 흐름을 점검합니다. 시료 루프에 장애물 또는 공기 폐색이 있는지 검사합니다. 이동상 성분이 혼합성이고 이동성이 제대로 탈기되었는지 확인합니다.

  3. 가드 컬럼(있는 경우) 또는 분석 컬럼 주입구의 튜빙을 분리합니다. 흐름을 점검합니다. 높은 유속(예: 10 mL/min)으로 펌프를 퍼징하고 필요한 경우 시스템을 프라이밍합니다. (각 펌프 헤드를 따로 프라이밍하십시오.) 시스템에 체크 밸브가 있는 경우 공기가 빠져나가도록 밸브를 풉니다.

  4. 컬럼을 다시 연결하고 2배의 유속으로 용매를 펌핑합니다. 압력이 여전히 낮으면 주입구 피팅 또는 컬럼 엔드 피팅에서 누출을 점검합니다.

  5. 가드와 분석 컬럼을 분리하고 시스템을 퍼징합니다. 컬럼을 다시 연결합니다. 문제가 계속되면 100% 메탄올이나 이소프로판올로 시스템을 플러싱합니다.

  6. 씰을 교체합니다. 문제가 계속되면 피스톤과 씰을 교체합니다.

  7. 밸브를 다시 조립하거나 교체합니다.

  8. 씰을 교체합니다.

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문제 4번: 평소보다 높은 압력

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 펌프, 주입기, 인라인 필터 또는 튜빙 문제.











  2. 막힌 가드 컬럼 또는 분석 컬럼.
  1. 가드 컬럼과 분석 컬럼을 시스템에서 분리합니다. 접합관 및 내경 0.010 인치 이상의 튜빙으로 교체하고 주입기와 검출기를 다시 연결합니다. 2-5 mL/min으로 펌프를 작동합니다. 압력이 최소 수준이면 원인 2를 참조하십시오. 그렇지 않다면 시스템 부품을 체계적으로 제거하고(검출기부터 시작한 다음 인라인 필터로) 역순으로 펌프에 조립하여 원인을 격리합니다. 펌프에 필터가 있다면 교체합니다.

  2. 가드 컬럼(있는 경우)을 제거하고 압력을 점검합니다. 필요한 경우 가드 컬럼을 교체합니다. 분석 컬럼이 막힌 경우 검출기에서 분리된 상태에서 컬럼을 뒤집어 플러싱합니다. 문제가 계속되는 경우 강하게 체류하는 오염 물질로 컬럼이 막혔을 수 있습니다. 적절한 복구 절차(표 2)를 사용하십시오. 문제가 여전히 계속되면 주입구 프릿을 변경하거나 컬럼을 교체합니다.

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문제 5번: 가변적 체류 시간

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 누출.




  2. 이동상 성분의 변화. (작은 변화도 체류 시간의 큰 변화를 초래할 수 있습니다.)

  3. 펌프에 공기 갇힘. (체류 시간이 무작위로 증가 및 감소합니다.)


  4. 컬럼 온도 변동(특히 이온 교환 시스템에서 뚜렷하게 나타남).



  5. 컬럼 과부하. (일반적으로 컬럼에서 주입된 용질의 질량이 컬럼 용량을 초과하면 체류 시간이 감소함.)

  6. 시료 용매가 이동상과 호환되지 않음.

  7. 컬럼 문제. (불규칙한 체류 시간의 일반적인 원인은 아님. 컬럼이 노후됨에 따라 체류 시간이 점차 줄어듦.)
  1. 시스템에 헐거운 피팅이 있는지 확인합니다. 펌프에 누출, 염 축적, 비정상적 소음이 있는지 확인합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다.

  2. 이동상의 구성을 점검합니다. 비례 값을 사용하여 이동상을 기계 혼합하는 경우 손으로 혼합하고 한 탱크에서 공급합니다.

  3. 펌프 헤드 또는 체크 밸브에서 공기를 퍼징합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다. 이동상이 탈기되었는지 확인합니다.

  4. 신뢰성 있는 컬럼 오븐을 사용합니다. (참고: 컬럼 온도가 높을수록 컬럼 효율이 증가합니다. 최적의 결과를 위해서는 용액을 컬럼에 주입하기 전에 가열하십시오.)

  5. 더 적은 양(예: 10 μL 대 100 μL)을 주입하거나 시료를 1:10 또는 1:100으로 희석한 후 같은 양을 주입합니다.

  6. 용매를 조정합니다. 가능하면 항상 이동상에 시료를 주입합니다.

  7. 동일한 유형의 새 컬럼으로 교체하여 컬럼이 원인인지 확인합니다. 복구 절차에 실패하는 경우 기존 컬럼을 폐기합니다.

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문제 6번: 분해능 상실

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 오염/열화된 이동상(체류 시간 및/또는 선택성 변경 초래).

  2. 막힌 가드 컬럼 또는 분석 컬럼.
  1. 신선한 이동상을 준비합니다.




  2. 가드 컬럼(있는 경우)을 제거하고 분석을 시도합니다. 필요한 경우 가드 컬럼을 교체합니다. 분석 컬럼이 막힌 경우 뒤집어 플러싱합니다. 문제가 계속되는 경우 강하게 체류하는 오염 물질로 컬럼이 막혔을 수 있습니다. 적절한 복구 절차(표 2)를 사용하십시오. 문제가 여전히 계속되면 주입구 프릿을 변경하거나 컬럼을 교체합니다.

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문제 7번: 갈라진 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 가드 또는 분석 컬럼 주입구의 오염.











  2. 부분적으로 막힌 프릿.

  3. 컬럼 주입구의 작은 (고르지 않은) 공극.





  4. 시료 용매가 이동상과 호환되지 않음.
  1. 가드 컬럼(있는 경우)을 제거하고 분석을 시도합니다. 필요한 경우 가드 컬럼을 교체합니다. 분석 컬럼이 막힌 경우 뒤집어 플러싱합니다. 문제가 계속되는 경우 강하게 체류하는 오염 물질로 컬럼이 막혔을 수 있습니다. 적절한 복구 절차(표 2)를 사용하십시오. 문제가 여전히 계속되면 주입구 프릿이 (부분적으로) 막혔을 가능성이 있습니다. 프릿을 변경하거나 컬럼을 교체합니다.

  2. 프릿을 교체합니다(위 참조).

  3. 결합상 기능이 동일한 박막 입자로 컬럼 상단을 다시 패킹합니다. 뒤집힌 흐름 방향으로 컬럼을 계속 사용합니다.

  4. 용매를 조정합니다. 가능하면 항상 이동상에 시료를 주입합니다.

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문제 8번: 초기 및 이후 주입에서 피크 꼬리 끌림

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 시료가 활성 위치에 반응.





  2. 잘못된 이동상 pH.



  3. 잘못된 컬럼 유형.



  4. 컬럼 주입구의 작은 (고르지 않은) 공극.

  5. 잘못된 주입 용매.
  1. 먼저 표준 컬럼 테스트 혼합물로 컬럼 성능을 점검합니다. 테스트 혼합 결과가 양호하면 이온쌍 시약 또는 경쟁 염기 또는 산 조절제를 첨가합니다.

  2. pH를 조정합니다. 염기 화합물의 경우에는 대개 pH가 낮을수록 대칭 피크가 증가합니다.

  3. 다른 컬럼 유형을 사용해 봅니다(예: 염기 화합물의 경우 비활성화된 컬럼).

  4. 갈라진 피크를 참조하십시오.

  5. 이동상보다 강한 용매에 시료를 주입하는 경우 피크가 꼬리를 끌 수 있습니다. 이동상에 시료를 용해합니다.

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문제 9번: 꼬리를 끄는 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 오염/마모된 가드 또는 분석 컬럼.






  2. 오염/열화된 이동상.

  3. 시료의 방해 성분
  1. 가드 컬럼(있는 경우)을 제거하고 분석을 시도합니다. 필요한 경우 가드 컬럼을 교체합니다. 분석 컬럼이 문제의 원인인 경우 적절한 복구 절차(표 2)를 사용하십시오. 문제가 계속되면 컬럼을 교체합니다.

  2. 이동상의 구성을 점검합니다.


  3. 표준을 사용하여 컬럼 성능을 점검합니다.

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문제 10번: 앞서는 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 과부하된 컬럼.




  2. 시료 용매가 이동상과 호환되지 않음.







  3. 주 피크 전의 숄더 또는 점진적 기저선 상승은 다른 시료 성분일 수 있습니다.
  1. 더 적은 양(예: 10 μL 대 100 μL)을 주입합니다. 질량 과부하의 경우 시료를 1:10 또는 1:100배로 희석합니다.

  2. 용매를 조정합니다. 가능하면 항상 이동상에 시료를 주입합니다. 극성 결합상 컬럼을 50 컬럼 분량의 HPLC 등급 에틸 아세테이트로 표준 유속에서 2-3회 플러싱한 다음 분석 전에 중간 극성 용매로 플러싱합니다.

  3. 시스템의 효율성을 높이거나 선택성을 변경하여 분해능을 개선합니다. 필요한 경우 다른 컬럼 유형을 사용해 봅니다(예: 비극성 C18에서 극성 시아노상으로 전환).

문제 색인으로 돌아가기


문제 11번: 둥근 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 선형 동적 범위를 벗어나 작동하는 검출기

  2. 너무 낮게 설정된 기록기 이득.

  3. 과부하된 컬럼.



  4. 시료-컬럼 상호작용.






  5. 너무 높게 설정된 검출기 및/또는 기록기 시간 상수.
  1. 시료 용량 및/또는 농도를 줄입니다.

  2. 이득을 조정합니다.

  3. 더 적은 양(예: 10 μL 대 100 μL)이나 1:10 또는 1:100 희석 시료를 주입합니다.

  4. 버퍼 강도, pH 또는 이동상 조성을 변경합니다. 필요한 경우 컬럼 온도를 높이거나 컬럼 유형을 변경합니다. (용질 구조 분석이 상호작용 예측에 도움이 될 수 있습니다.)

  5. 설정을 최저값 또는 추가 개선이 보이지 않는 값으로 줄입니다.

문제 색인으로 돌아가기


문제 12번: 기저선 변동

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 컬럼 온도 변동 (작은 변화도 주기적인 기저선 상승 및 하락을 초래합니다. 가장 흔하게는 굴절률 검출기와 전도율 검출기, 고감도 또는 간접 분광 모드의 UV 검출기에 영향을 줍니다.)

  2. 비균질 이동상. (온도 변동으로 인한 주기적 패턴보다는 일반적으로 더 높은 흡수도로 변동.)

  3. 검출기 셀의 오염 물질 또는 공기 축적.




  4. 검출기 뒤의 막힌 배출구 라인. (고압은 용기창의 균열을 일으켜 잡음이 있는 기저선을 생성.)

  5. 이동상 혼합 문제 또는 유속 변화.


  6. 특히 이동상 변경 시 느린 컬럼 안정화.


  7. 오염되거나 열화되거나 고급 화학물질에서 준비되지 않은 이동상.

  8. 시료의 강하게 체류된 물질(높은 k’)은 매우 넓은 피크로 용리되고 상승 기저선으로 보일 수 있습니다. (기울기 분석은 문제를 악화시킬 수 있습니다.)

  9. 최대 흡수도가 아닌 곡선 기울기로 설정된 검출기(UV).
  1. 컬럼 및 이동상 온도를 제어하고, 검출기 앞에 열 교환기를 사용합니다.





  2. HPLC 등급 용매, 고순도 염, 첨가제를 사용합니다. 사용 전에 이동상을 탈기하고, 사용 중에는 헬륨을 사용하여 주입합니다.

  3. 메탄올 또는 기타 강한 용매로 셀을 플러싱합니다. 필요한 경우 1N HNO3로 셀을 세척합니다(절대 HCl를 사용하지 말고, PEEK 튜빙 또는 피팅에 질산을 절대 사용하지 마십시오.)

  4. 라인 플러그를 뽑거나 라인을 교체합니다. 검출기 설명서를 참조하여 용기창을 교체합니다.


  5. 조성/유속을 수정합니다. 문제를 방지하려면 조성과 유속을 정기적으로 모니터링하십시오.

  6. 중간 강도의 용매로 컬럼을 플러싱하고, 분석 전에 새 이동상 10-20 컬럼 분량을 컬럼을 통과시킵니다.

  7. 이동상의 구성을 점검합니다.



  8. 가드 컬럼을 사용합니다. 필요한 경우 주입과 주입 사이 또는 분석 도중 주기적으로 컬럼을 강한 용매로 플러싱하십시오.


  9. 파장을 UV 최대 흡수도로 변경합니다.

문제 색인으로 돌아가기


문제 13번: 기저선 잡음(규칙적)

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 이동상, 검출기 셀 또는 펌프의 공기.


  2. 펌프 맥동.


  3. 불완전한 이동상 혼합.


  4. 온도 효과(고온의 컬럼, 가열되지 않은 검출기).

  5. 같은 라인에 있는 다른 전자 장비.


  6. 누출.
  1. 이동상을 탈기합니다. 시스템을 플러싱하여 검출기 셀 또는 펌프에서 공기를 제거합니다.

  2. 펄스 댐퍼를 시스템에 결합합니다.

  3. 손으로 이동상을 혼합하거나 점도가 낮은 용매를 사용합니다.

  4. 차이를 줄이거나 열 교환기를 추가합니다.

  5. LC, 검출기, 기록기를 격리하여 문제의 원인이 외부에 있는지 파악합니다. 필요에 따라 수정합니다.

  6. 시스템에 헐거운 피팅이 있는지 확인합니다. 펌프에 누출, 염 축적, 비정상적 소음이 있는지 확인합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다.

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문제 14번: 기저선 잡음(불규칙적)

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 누출.




  2. 오염되거나 열화되거나 고품질 재료에서 준비되지 않은 이동상.

  3. 검출기/기록기 전자 장치.



  4. 시스템에 갇힌 공기.

  5. 검출기의 기포.






  6. 오염된 검출기 셀. (소량의 오염 물질도 잡음을 유발할 수 있습니다.)

  7. 약한 검출기 램프.

  8. 실리카 또는 패킹 재료가 누출되는 컬럼.
  1. 시스템에 헐거운 피팅이 있는지 확인합니다. 펌프에 누출, 염 축적, 비정상적 소음이 있는지 확인합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다.

  2. 이동상의 구성을 점검합니다.



  3. 검출기와 기록기를 전자적으로 격리합니다. 설명서를 참조하여 문제를 수정합니다.

  4. 강한 용매로 시스템을 플러싱합니다.

  5. 검출기를 퍼징합니다. 검출기 뒤에 배압 조절기를 설치합니다. 특히 RI 검출기의 경우 기구 설명서를 확인합니다(과도한 배압은 유세포 균열을 초래할 수 있습니다).

  6. 셀을 세척합니다.



  7. 램프를 교체합니다.

  8. 컬럼을 교체하고 시스템을 세척합니다.

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문제 15번: 넓은 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 이동성 조성이 바뀜.

  2. 이동상 유속이 너무 낮음.

  3. 누출(특히 컬럼과 검출기 사이).



  4. 부정확한 검출기 설정.

  5. 추가적인 컬럼 효과:
    a. 컬럼 과부하



    b. 검출기 응답 시간 또는 셀 용량이 너무 큼.

    c. 컬럼과 검출기 사이 튜빙이 너무 길거나 내경이 너무 큼.


    d. 기록기 응답 시간이 너무
    높음.

  6. 너무 낮은 버퍼 농도.

  7. 오염/마모된 가드 컬럼.

  8. 오염/마모된 컬럼.




  9. 컬럼 주입구의 공극.


  10. 피크에 두 개 이상의 분해 불량 화합물이 표시됨.

  11. 너무 낮은 컬럼 온도.
  1. 새 이동상을 준비합니다.


  2. 유속을 조정합니다.

  3. 시스템에 헐거운 피팅이 있는지 확인합니다. 펌프에 누출, 염 축적, 비정상적인 소음이 있는지 점검합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다.

  4. 설정을 조정합니다.


  5. a. 더 적은 양(예: 10 μL 대 100 μL)이나 1:10 또는 1:100 희석 시료를 주입합니다.

    b. 응답 시간을 줄이거나 더 작은 셀을 사용합니다.

    c. 최대한 짧은
    0.007-0.010 인치 내경 튜빙을 사용합니다.

    d. 응답 시간을 줄입니다.


  6. 농도를 높입니다.

  7. 가드 컬럼을 교체합니다.


  8. 같은 유형의 새 컬럼으로 교체합니다. 새 컬럼이 좁은 피크를 제공하지 못하는 경우 기존 컬럼을 플러싱(표 2)한 다음 다시 테스트합니다.

  9. 컬럼을 교체하거나 주입구 말단을 열고 공극을 채웁니다.

  10. 컬럼 유형을 교체해 분리를 개선합니다.

  11. 온도를 높입니다. 컬럼 제조업체에서 더 높은 온도를 허용하지 않는 한 75 °C를 초과하지 마십시오.

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문제 16번: 피크 높이 변화(하나 이상의 피크)

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 하나 이상의 시료 성분 열화 또는 컬럼 활동 변화.








  2. 특히 주입 포트와 컬럼 주입구 사이의 누출. (체류도 바뀝니다.)


  3. 일관되지 않은 시료 용량.











  4. 검출기 또는 기록기 설정 변화.

  5. 약한 검출기 램프.

  6. 검출기 셀의 오염.
  1. 신선한 시료 또는 표준을 사용하여 시료가 문제의 원인인지 확인합니다. 피크 일부 또는 전부가 예상보다 여전히 작다면 컬럼을 교체하십시오. 새 컬럼으로 분석이 개선되는 경우 적절한 절차(표 2)에 따라 기존 컬럼 복구를 시도하십시오. 성능이 개선되지 않으면 기존 컬럼을 폐기합니다.

  2. 시스템에 헐거운 피팅이 있는지 확인합니다. 펌프에 누출, 염 축적, 비정상적 소음이 있는지 확인합니다. 필요할 경우 펌프 씰을 교체합니다.

  3. 시료가 일관되는지 확인합니다.
    용량이 고정된 시료 루프의 경우 루프 용량의 2-3배를 사용하여 루프가 완전히 채워지도록 하십시오. 자동 시료 주입기 바이얼에 충분한 시료가 포함되어 있고 기포가 없는지 확인합니다. 주사기형 주입기에 공기가 없는지 점검합니다. 세척 또는 플러싱 단계가 있는 시스템에서는 세척액이 시료 성분을 침전시키지 않는지 확인합니다.

  4. 설정을 점검합니다.


  5. 램프를 교체합니다.

  6. 셀을 세척합니다.

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문제 17번: 선택성의 변화

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 용매 이온 강도, pH 또는 첨가제 농도(특히 이온 용질에 영향을 미치는)를 높이거나 낮춥니다.

  2. 컬럼이 변경되어 새 컬럼의 선택성이 기존 컬럼과 다름.






  3. 시료를 잘못된 용매 또는 과도한 양(100-200 μL)의 강한 용매에 주입.

  4. 컬럼 온도 변화.
  1. 이동상의 구성을 점검합니다.




  2. 컬럼 패킹의 동일성을 확인합니다. 재현 가능한 분석의 경우 동일한 컬럼 유형을 사용합니다. 변화가 점진적으로 발생했는지 확인합니다. 이 경우 결합상이 제거됐을 수 있습니다. 컬럼 활동이 바뀌었거나 컬럼이 오염되었을 수 있습니다.

  3. 용매를 조정합니다. 가능하면 항상 이동상에 시료를 주입합니다.


  4. 온도를 조정합니다. 필요한 경우 컬럼 오븐을 사용하여 일정한 온도를 유지하십시오.

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문제 18번: 음성 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 기록기 리드가 뒤집힘.

  2. 용질의 굴절률이 이동상의 굴절률 미만(RI 검출기).

  3. 시료 용매와 이동상의 조성이 크게 다름(공백 피크).


  4. 이동상의 UV 파장 흡수도가 시료 성분보다 높음.
  1. 극성을 점검합니다.

  2. 더 낮은 굴절률의 이동상을 사용하거나 기록기 리드를 뒤집습니다.

  3. 시료 용매를 조정하거나 변경합니다. 가능하면 항상 시료를 이동상에 희석합니다.

  4. a. 간접 UV 검출을 사용할 때 극성을 바꾸거나

    b. UV 파장을 변경하거나 선택된 파장을 흡수하지 않는 이동상을 사용하십시오.

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문제 19번: 고스트 피크

문제가능한 원인해결 방법/비고
  1. 주입기 또는 컬럼의 오염.






  2. 늦게 용리되는 피크(일반적으로 넓음)가 시료에 존재.
  1. 분석 사이에 주입기 플러싱(좋은 정례 관행). 필요한 경우 강한 용매로 컬럼을 통과시켜 잔여 용리물을 제거합니다. 기울기 분석에 최종 세척 단계를 포함시켜 강하게 체류된 화합물을 제거합니다.

  2. a. 시료 준비를 확인합니다.

    b. (단계적) 기울기를 포함시켜 빠르게 성분을 용리합니다.

 

추가 권장 사항

기구 설명서의 유지 관리 및 문제 해결 섹션도 참조하시기 바랍니다. 최신 HPLC 시스템에는 기구 내의 문제 영역을 격리하는 데 도움이 되는 자가 진단 기능이 있습니다. 컬럼 또는 특정 분석과 관련된 문제가 지속되는 경우 Supelco 기술 서비스 부서에 문의하십시오.

이 안내서의 나머지 페이지에는 분해능, 체류 또는 선택성 상실에 따른 컬럼 성능 복구 절차, 컬럼 하드웨어 문제 예방 방법에 대한 제안, Supelco 카탈로그의 컬럼 보호 제품 선택이 포함되어 있습니다. 컬럼 수명을 연장하고 일반적으로 HPLC 또는 FPLC® 분석을 단순화하거나 개선하는 당사 액세서리 제품군 전체는 카탈로그를 참조하십시오.

마지막으로 전화로 당사 HPLC 및 FPLC 제품에 관한 추가 문서를 요청하거나 당사의 모든 무료 기술 문서를 즉시 이용하려면 당사 ChromFax 서비스를 사용하십시오.

컬럼 성능 복구

다음 절차에 따라 시료 오염으로 인해 열화된 컬럼의 성능을 복구할 수 있습니다.

컬럼을 분리하고 뒤집습니다. 검출기가 아니라 펌프에 컬럼을 연결합니다. 이 의 적절한 플러싱 절차에 따라 컬럼 배압이 1500-4500 psi가 되는 유속을 사용하되 제조업체 기구 설명서의 권장 최대 압력을 넘지 않도록 하십시오. SUPELCOSIL 컬럼이 있는 경우 테스트 혼합물과 데이터 시트에 명시된 조건을 사용하여 분석합니다. 효율성, 대칭, 용량이 테스트 시트 값의 10-15 % 이내여야 합니다. 그렇지 않다면 컬럼 주입구를 다시 패킹하거나 컬럼을 교체하십시오.

참고: 표 2에 기재된 용량은 컬럼 용량 4.15 mL인 25 cm x 4.6 mm I.D. 컬럼 기준입니다. 길이가 25 cm 이하인 4.6 mm I.D. 컬럼을 복구할 경우 표 2의 모든 용량을 25에 대한 컬럼 길이 비율로 곱하십시오(예를 들어 15 cm 컬럼: 15/25 또는 표 2 용량의 0.6배). 내경이 4.6 mm가 아닌 컬럼을 복구할 경우 표 2의 모든 용량을 (4.6)2에 대한 컬럼 내경 제곱의 비율로 곱하십시오(예를 들어 내경 3.2 mm인 컬럼: (3.2)2/(4.6)2 = 10.24/21.16 = 표 2 값의 0.48배).

  

실리카 컬럼

다음을 사용하여 플러싱합니다.

  1. 50 mL 헥산
  2. 50 mL 염화 메틸렌
  3. 50 mL 2-프로판올
  4. 50 mL 메탄올
  5. 25 mL 염화 메틸렌
  6. 25 mL 이동상

제조업체가 명시한 조건에 따라 컬럼 성능을 평가하십시오.

참고: 비활성화된 실리카 컬럼 재생에 관해서는 실리카 컬럼 재생 용액도 참조하십시오.

 

SUPELCOSIL LC-PCN 컬럼

A. 단백질을 제거하려면
0.1 %의 트리플루오르아세트산이 함유된 아세토니트릴:물 50:50의 10 컬럼 용량으로 플러싱합니다.

B. TCA를 제거하려면
10 컬럼 용량의 증류수(H3PO4로 pH를 2.5로 조정)로 플러싱한 후 각각 다음의 10 컬럼 용량으로 플러싱합니다.

  1. 물(염 제거)
  2. 메탄올(물 제거)
  3. 메탄올/염화 메틸렌, 50:50(일반적인 세척 용액)
  4. 메탄올

컬럼 성능이 여전히 허용할 수 없는 수준이면 분석에 사용되는 농도의 10배로 이동상 버퍼를 준비하고 밤새 컬럼을 통해 재순환시킵니다.
일반적 버퍼 농도로 이동상을 사용하여 컬럼을 다시 안정화시키고 다시 평가합니다.

*사용 주의: 일부 버퍼 유형 및/또는 10배 농도 증가는 침전을 유발할 수 있습니다.

실리카 기반 역상 컬럼 (알킬 (C8, C18, etc.), 페닐 또는 디페닐 컬럼, SUPELCOSIL LC-PAH 컬럼)

A. 수용성 시료는 다음을 사용하여 플러싱합니다.

  1. 따뜻한(60 °C) 증류수로 플러싱
  2. 50 mL 메탄올
  3. 50 mL 아세토니트릴
  4. 25 mL 메탄올
  5. 25 mL 이동상

컬럼 성능을 평가합니다.

B. 비수용성 시료는 다음을 사용하여 플러싱합니다.
  1. 50 mL 2-프로판올
  2. 50 mL 염화 메틸렌
  3. 50 mL 헥산
  4. 25 mL 이소프로판올
  5. 25 mL 이동상

컬럼 성능을 평가합니다.

 

실리카 기반 이온 교환 컬럼
(강하거나 약한 음이온 또는 양이온 교환)

이온 교환 시스템이 포함된 대부분의 분석은 이온 이동상을 사용합니다. 컬럼 성능에 영향을 미칠 수 있는 화합물은 일반적으로 물에 녹지 않거나 조금만 녹습니다. 이러한 화합물을 제거하는 데는 다음 절차로 충분합니다.

다음을 사용하여 플러싱합니다.

  1. 50 mL 뜨거운(40-60 °C) 증류수
  2. 50 mL 메탄올
  3. 50 mL 아세토니트릴
  4. 25 mL 염화 메틸렌
  5. 25 mL 메탄올
  6. 25 mL 이동상

컬럼 성능을 평가합니다.

극성 결합상 컬럼(아미노, 시아노 또는 디올 컬럼 또는 Pirkle형 키랄 컬럼)

역상 모드에서 사용되는 컬럼의 경우(예: 유기 용매/수용성 버퍼 이동상) 실리카 기반 역상 컬럼과 동일한 세척 절차를 따르십시오. 비수용성 이동상에 사용되는 컬럼의 경우 다음 방법을 사용합니다.

다음을 사용하여 플러싱합니다.

  1. 50 mL 클로로포름
  2. 50 mL 메탄올
  3. 50 mL 아세토니트릴
  4. 25 mL 염화 메틸렌
  5. 25 mL 메탄올
  6. 25 mL 이동상

컬럼 성능을 평가합니다.

단백질 및 펩타이드 RPLC용 실리카 기반 컬럼

실리카 기반 역상 컬럼의 프로토콜에 따릅니다.

또는 트리플루오로에탄올 100 μL를 1회 이상 주입합니다(각 주입 후 컬럼 성능을 평가하여 주입 횟수를 결정합니다).

컬럼 성능을 평가합니다.

표 2컬럼 복구 절차


용매극성물과의 혼합성UV 차단 파장•20 °C에서의
굴절률
용매 강도,
∈o(실리카)
20 °C에서의
점도, cP
Hexanenonpolarno2001.37500.33
Isooctaneno2001.3910.010.5
Carbon tetrachlorideno2631.45950.140.97
Chloroformno2451.4460.310.57
Methylene chlorideno2351.4240.320.44
Tetrahydrofuranyes2151.4070.350.55
Diethyl etherno2151.3530.290.23
Acetoneyes3301.3590.430.32
Ethyl acetatepoorly2601.3720.450.45
Dioxaneyes2151.4220.491.54
Acetonitrileyes1901.3440.50.37
2-Propanolyes2101.3770.632.3
Methanolyes2051.3290.730.6
Waterpolaryes––1.3328>0.731
표 3HPLC에서 흔히 사용되는 유기 용매의 특성 • 전형적 값

극성 용매에 노출된 비결합 실리카 컬럼

물이나 알코올 같은 매우 강한 극성 용매가 함유된 시료와 이동상은 코팅되지 않은 실리카 HPLC 컬럼을 비활성화할 수 있습니다. 이는 컬럼 성능, 특히 용질 체류와 선택성에 큰 영향을 미칠 수 있습니다. (그림 C2). 무극성 용매로 장시간 컬럼 플러싱을 하더라도 컬럼 성능은 부분적으로만 복구되고 화학물질이 낭비됩니다. 실리카 재생 용액은 갇힌 극성 재료를 제거하여 빠르고 저렴하게 실리카 컬럼 성능을 복구합니다. 영향을 받은 컬럼을 통해 4 mL/minute의 속도로 10분 동안 용액을 펌핑한 다음, 2 mL/minute의 속도로 10분 동안 이동상으로 플러싱합니다. 실리카 컬럼 평가용 검사 혼합물을 사용하여 컬럼 성능을 평가합니다(카탈로그 58281번). 성능은 극성 용매를 주입하기 전과 거의 같아야 합니다(그림 C3).

실리카 컬럼 재생 용액, 200 mL(카탈로그 33175번)

실리카 컬럼 성능

그림 C.재생 용액이 실리카 컬럼 성능을 복구

컬럼 테스트 혼합물

HPLC 컬럼 성능 평가 혼합물.

잘 정의된 테스트 혼합물을 통해 크로마토그래피 문제를 해결하고, 시스템 효율을 최적화하며, 성능을 이해할 수 있는 조건에서 컬럼을 평가할 수 있습니다. 당사는 광퇴화를 방지하기 위해 호박색 앰풀에 든 테스트 혼합물을 배송하며, 적절한 사용과 결과 해석을 위한 설명서도 제공합니다.

컬럼별 또는 응용분야별 혼합물 중에서 선택하십시오. 당사의 광범위한 테스트 혼합물 카탈로그를 참조하거나 당사 기술 서비스 부서에 문의하십시오.

일반적 하드웨어 문제 예방 및 해결

누출 방지

누출은 HPLC 분석에서 일반적 문제입니다. 시스템 누출을 최소화하려면 다른 제조업체의 하드웨어 및 피팅으로 교체하지 마십시오. 호환되지 않는 피팅은 처음에는 억지로 끼울 수 있지만 분리 과정에서 문제가 나타날 수 있으며, 반복적인 연결은 결국 부품의 누출을 초래할 수 있습니다. 교체가 반드시 필요한 경우 적절한 어댑터를 사용하고, 계속하기 전에 모든 연결부의 누출을 점검하십시오.

고농도 염(>0.2 M)과 부식성 이동상은 씰 효율을 떨어뜨릴 수 있습니다. 주입기 로터 씰의 수명 역시 이동상의 상태에 따라 달라지는데, 특히 높은 pH에서 작동할 때 그러합니다. 경우에 따라 이온쌍 시약을 장시간 사용하면 펌프 피스톤에서의 윤활 효과로 인해 씰에 작은 누출이 생길 수 있습니다. 일부 씰은 특정 용매에서 성능이 좋지 않습니다. 나쁜 조건하에서 펌프를 사용하기 전에 기구 제조업체의 사양을 읽어 보십시오. 씰을 교체하려면 펌프 설명서의 유지 관리 섹션을 참조하십시오.

컬럼 프릿 막힘 제거

막힌 컬럼 프릿은 또 다른 흔한 HPLC 문제입니다. 처음부터 이 문제를 최소화하려면 프리컬럼 필터와 가드 컬럼을 사용하십시오.

주입구를 세척하려면 먼저 컬럼을 분리하고 뒤집습니다. 컬럼을 펌프에 연결하고(검출기에는 연결하지 않음) 표준 유속의 2배로 용매를 펌핑합니다. 주입구 프릿에 있는 소량의 미립자 물질을 제거하는 데는 용매 약 5-10 컬럼 용량이면 충분합니다. 표준 테스트 혼합물을 사용하여 세척된 컬럼의 성능을 평가하십시오.

컬럼 주입구의 프릿 교체

용매 플러싱(위 참조)이나 복구 절차(표 2)로 컬럼의 성능이 복구되지 않는 경우가 있습니다. 문제의 원인으로 컬럼을 격리했고 다른 복구 절차가 실패한 경우 패킹의 공극이나 주입구 프릿의 지속적 장애물이 존재할 수 있습니다.

마지막 수단으로 컬럼의 주입구 끝을 여십시오. 주의: 주입구 끝을 열고 나아가 배출구 끝을 열면 패킹 베드가 영구적으로 손상될 수 있습니다. 컬럼을 열기 전에 제조업체의 문서를 참조하십시오. (수지 충전 컬럼의 주입구 끝이나 배출구 끝은 절대로 열면 안 됩니다).

다음 절차를 사용하여 컬럼을 엽니다.

  1. 컬럼을 시스템에서 분리합니다. 패킹이 컬럼 밖으로 흘러나오지 않도록 하려면 최대한 신속하게 후속 단계를 실시하십시오.
  2. 바이스와 렌치 또는 2개의 렌치를 사용하여 조심스럽게 주입구 피팅을 제거합니다(그림 D). 부품에 프릿이 남아 있는 경우 단단한 표면에 피팅을 두드려 프릿을 떼어냅니다. 프릿이 컬럼에 남아 있는 경우 들어 올리지 말고 미끄러뜨리십시오. 이렇게 하면 패킹 베드의 무결성이 보존됩니다.
    모듈식 컬럼에서 프릿 캡을 제거하려면 특수 공구(예: 카탈로그 55216번)가 필요할 수 있습니다.
  3. 기존 프릿을 검사합니다. 프릿이 스테인리스 스틸 튜빙에 압착되면 제대로 안착된 프릿의 컬럼 쪽 가장자리 주위에 링이 남습니다. 링이 있다고 해서 페룰이 튜빙 끝에 너무 가까이 안착되어 있다는 뜻은 아닙니다. 이로 인해 헐거워진 연결부는 실리카를 누출시키거나 혼합실 역할을 할 수 있습니다.
  4. 패킹 베드를 검사합니다. 함몰되거나 파열되었다면 새 컬럼이 필요합니다.
  5. 프릿을 교체합니다.
  6. 엔드 피팅을 교체합니다. 손으로 돌려 조인 다음 렌치로 1/4바퀴 조입니다.

전형적인 HPLC 컬럼 디자인

그림 D.전형적인 HPLC 컬럼 디자인

컬럼 보호 제품 선택

Supelco™ Mobile Phase Filtration Apparatus
(흡입 라인에 연결)

Supelco™ Mobile Phase Filtration Apparatus

용매와 기타 이동상 성분으로부터 입자와 기체를 제거하여 기기와 컬럼을 보호하십시오. 나일론 66 멤브레인 필터는 HPLC에서 흔히 사용되는 모든 용매와 호환됩니다.

여과 장치 1
(1000 mL 사이드암 플라스크에 연결)
250 mL 유리 탱크, 깔때기 베이스 및 스토퍼, 클램프, 스테인리스 스틸 홀더 및 스크린, 10개의 Teflon 개스킷, 50개의 나일론 66 필터(47 mm, 0.45 μm 천공)가 포함됩니다.

여과 장치 2
(흡입 라인에 연결)
250 mL 유리 탱크, 34/45 테이퍼 깔때기 베이스, 34/45 테이퍼 1000 mL 플라스크 및 유리 캡, 클램프, 스테인리스 스틸 홀더 및 스크린, 10개의 Teflon 개스킷, 50개의 나일론 66 필터(47 mm, 0.45 μm 세공)가 포함됩니다.

Supelco® Mobile Phase Filtration Apparatus

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교체용 유리 부품

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필터

프리컬럼 필터는 컬럼 프릿에 축적되어 갈라진 피크 및 높은 배압을 초래할 수 있는 미립자 물질로부터 HPLC 컬럼을 보호하는 데 필수적입니다. 입자의 원천에는 이동상(특히 버퍼를 유기 용매와 혼합한 경우), 펌프 및 주입기 씰, 시료가 포함됩니다. 5 μm 이상의 입자가 함유된 컬럼을 2.0 μm 프릿을 사용하여 보호하거나 5 μm보다 작은 입자가 있는 컬럼에는 0.5 μm 프릿을 사용하십시오.

Supelco 필터

직접 연결: 분석 컬럼 및 가드 컬럼을 보호합니다. 
당사의 프리컬럼 필터는 최신 카탈로그에 등재된 HPLC 컬럼 또는 가드 컬럼이나 Valco 호환 엔드 피팅이 있는 그 밖의 컬럼에 직접 연결하고 손으로 조일 수 있습니다. PEEK 캡 및 몸체, 2 μm 스테인리스 스틸 프릿. 무금속 시스템의 경우 PEEK/Teflon 교체용 프릿(카탈로그 57430-U번)을 주문하십시오.

Supelco 필터

Supelco® 필터

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Valco 프리컬럼 프릿 및 스크린 필터3

인라인 설치. 사용하지 않는 용량이 적은 효율적인 필터가 컬럼 성능 저하 없이 입자로부터 컬럼을 보호합니다. 교체 가능한 1/8인치 프릿에는 3 μm 또는 5 μm 컬럼 패킹을 보호하는 0.5 μm의 세공이 있으며, 교체 가능한 스크린에는 2 μm 세공이 있습니다. 보다 높은 여과 용량을 위해서는 프릿 필터를 선택하고(대부분의 응용분야), 사용하지 않는 용량(예: 미세공 컬럼)을 더 줄이기 위해서는 스크린 필터를 선택하십시오. 1/16인치 외경 튜빙과 함께 사용합니다. 1/16인치 피팅이 포함되어 있습니다.

Valco 프리컬럼 프릿 및 스크린 필터

Valco 프리컬럼 필터 및 프릿

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SSI 고압 프리컬럼 필터

Isolation Technologies 프리컬럼 필터

인라인 설치 고용량 주입구 필터는 사용하지 않는 용량과 띠 넓어짐을 최소화하여 컬럼 효율 손실을 방지하면서 컬럼을 보호합니다. 프릿 다공성: 0.5 μm. 사진과 같은 전체 구성.

Isolation Technologies 프리컬럼 필터

SSI 고압 프리컬럼 필터

인라인 설치. 316 스테인리스 스틸 필터 디스크(0.5 μm 세공)는 컬럼 엔드 피팅 교체 없이 간편하게 교체됩니다. 최대 작동 압력: 15,000 psi(1054 kg/cm²). 1/16인치 튜빙용.

SSI 고압 프리인젝터 필터

SSI 고압 프리인젝터 필터

펌프와 주입기 사이에 배치하여 이동상의 최종 여과를 제공합니다. 간편하게 교체되는 316 스테인리스 스틸 필터 요소(0.5 μm 세공). 최대 작동 압력: 15,000 psi(105 MPa). 1/16인치 외경 튜빙, 10-32 나사산용2.

Isolation Technologies 프리컬럼 필터

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Upchurch 프리컬럼 필터

인라인 설치 스테인리스 스틸 본체와 불활성 폴리에테르에테르케톤(PEEK) 엔드 피팅 및 한쪽 엔드 피팅의 0.5 μm 또는
2 μm PEEK 프릿.

Upchurch 프리컬럼 필터

Upchurch 프리컬럼 필터

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 Rheodyne Model 7725 및 7725i 주입기

Rheodyne Model 7725 주입기는 정확하고 정밀하게 1 μL-5 mL 시료를 주입할 수 있습니다. 튼튼하고 유지 관리가 쉬운 디자인으로 많은 고급 기능을 제공합니다.

  • 특허를 받은 연속 흐름 디자인(그림 참조)으로 LOAD에서 INJECT로 전환할 때 흐름이 중단되지 않음
  • 주입기 전면의 압력 나사를 사용한 간편한 씰 조정
  • 피팅에 쉽게 접근할 수 있는 넓은 포트 각도(30 °)

주입기에는 20 μL 시료 루프가 포함되며, 함께 제공되는 VESPEL 로터 씰은 pH 0-14에서 작업 시 Tefzel 로터 씰로 교체할 수 있습니다. 5000 psi(345 bar)로 공장 설정되어 있으며 7000 psi(483 bar)로 조정 가능합니다. Model 7725i에는 내부 위치 감지 스위치가 있습니다.

Model 7725 주입기

Model 7725 주입기는 컬럼의 마모를 줄입니다

기존 HPLC 밸브는 시료 주입 도중 일시적으로 흐름을 방해하므로 컬럼이 반복적인 압력 충격을 받게 됩니다. Rheodyne의 특허 받은 MBB(make-before-break) 디자인은 기존 연결을 중단하기 전에 새 연결을 만들어 중단 없는 흐름을 제공합니다.

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Optimize Technologies 펌프 교체용 부품

마모되기 쉬운 펌프 부품의 정기 교체가 포함된 예방적 유지 관리 프로그램은 비용이 많이 드는 다운타임을 방지하는 데 도움이 됩니다. 당사의 다양한 Optimize Technologies 체크 밸브, 씰, 피스톤은 제조업체 사양을 충족 또는 능가합니다. 최신 펌프 부품을 선택하려면 최신 Supelco 카탈로그를 참조하거나 당사 기술 서비스 부서에 문의하십시오.

Optimize Technologies 펌프 교체용 부품

SSI LO-Pulse 댐퍼

펄스 댐퍼는 펌프 맥동을 제어하여 보다 안정적인 기저선을 만들어냅니다. SSI LO-Pulse 댐퍼는 단일 피스톤 왕복 HPLC 펌프(Altex 110A, Eldex pumps, LDC Mini-Pump VS, SSI Models 200 및 300 등)와 호환되는 특허 받은 장치입니다. 이 펄스 댐퍼는 500-6000 psi(35-420 kg/cm²)의 압력에서 정량 분석 정밀도와 미량 시료 성분 검출 한계를 개선합니다. 피팅 및 설명서 포함.

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